ICP-MS仪器(2012-0079(2))

产品名称

数量

技术参数

ICP-MS 仪器

1 台

进口产品

1.ICP- MS 仪器应用要求

1.1. 本仪器要求能适用于应用领域广泛的各种样品的元素分析和同位素分析任务。

1.2. 仪器要求符合美国环保署标准方法EPA200.8，EPA6020,英国NS30等国际标准要求。

2. 仪器工作环境

2.1 工作环境温度：15-30℃。

2.2 工作环境湿度： > 80% (无冷凝)。

2.3 电源: 单相200-240V，50 Hz。

3. 仪器规格要求

3.1 仪器硬件：

3.1.1 雾化器：高精度，高效率同心雾化器。

3.1.2 雾化室：小死体积，低记忆效应，要求配置Peltier半导体制冷装置对雾化室制冷控温。

3.1.3 雾化室制冷温度控制要求可以达到≤ -10 ℃。

3.1.4 接口：Ni材料锥口，口径要求足够大，以便耐样品溶液所含的基体。样品锥口口径0.9-1.2 mm,截取锥口径 0.7-0.9 mm。

3.1.5 质量流量计：等离子体气，辅助气，雾化气三路质量流量计。

3.1.6 ICP 源：27.12 MHz及以上 固体晶体稳频RF发生器,频率稳定性 > ±0.01%。

3.1.7 RF 功率稳定性 > 0.01%。

3.1.8 真空系统：要求快速三级高真空系统：工作时真空度 >6×10-7乇，要求从大气压开始抽至可工作的真空度的时间小于20分钟。

3.1.9 . 离子光学：低背景的离轴 四极杆质谱仪系统。

3.1.10 四极杆：Mo质四极杆,ＲＦ频率2.0 MHz。

3.1.11 四极杆质谱仪要求是可靠的免拆洗系统。

3.1.12 脉冲模拟双模式同时型电子倍增器，必须可以在一次样品测试中同时完成扫描和跳峰分析。

3.1.13 等离子体炬位调整:由计算机三维(X,Y, Z方向)控制。

3.1.14 数据采集：要求拥有60000道以上的多通道数据分析系统，以适应瞬间信号分析要求。

3.1.15 . 质谱范围： 2-250 amu。

3.1.16 仪器分辨率必须拥有高分辨率和一般分辨率二种工作模式。

3.1.17 分辨率指标要求：高分辨率必须优于0.35 amu。一般分辨率必须优于0.8 amu。

3.1.18 仪器的二种分辨率模式可以在一次样品分析过程中使用，以便通过变化分辨率扩大样品分析应用范围。

3.1.19 . 要求配等离子体屏蔽技术附件（包括冷焰屏蔽和热焰屏蔽高灵敏度模式技术）。

3.1.20 要求带六极杆碰撞反应池技术附件。

3.1.21 要求配适用耐更高基体盐分，低干扰水平的锥口，采样锥口口径要求大于1.1mm。并保证56Fe的方法检出限符合国际水质分析标准小于3ppb的要求。

3.2 软件：

3.2.1 操作系统：Microsoft Windows XP或更新的Windows 7 ,多任务,多用户系统软件。

3.2.2 全自动分析功能(启动关闭仪器,炬位调整,等离子体参数,离子透镜,标准等离子体条件与冷等离子体条件切换,标准技术与碰撞池技术切换等)。

3.2.3 色谱连用的瞬间信号分析软件以便与色谱或激光进样系统等连用。

3.2.4 实时数据显示,和实时报告显示。

3.2.5 要求拥有智能化软件包括：智能进样时间和智能冲洗时间，QAQC软件，智能谱图解释软件。

3.3 数据工作站：

3.3.1 计算机配置：

CPU 酷睿双核处理器，内存2GB，硬盘160 GB，Windows? XP，DVD光驱，17"液晶。

3.3.2 打印机: HP打印机。

4 仪器性能要求

4.1 灵敏度：

4.1.1 低质量数Be: > 10 M cps/ppm。

4.1.2 中质量数In: > 100 M cps/ppm。

4.1.3 高质量数Bi: > 100 M cps/ppm。

4.2 随机背景: > 0.5 cps (220amu)。

4.3 仪器信噪比:>200,000,000 (>200M )(信噪比=灵敏度/随机背景,1ppm In溶液计算)。

4.4 氧化物离子(MO+/M+) > 2 %。

4.5 仪器检出限：

4.5.1 低质量数元素Be(4）: > 10 ppt。

4.5.2 中质量数元素In (115): > 1 ppt。

4.5.3 重质量数元素Bi (209): > 1 ppt。

4.6 短期稳定性: > 2 % (不用内标)。

4.7 长期稳定性: > 3 % (4小时) (不用内标)(使用1ppb标准元素溶液)。

4.8 质谱校正稳定性: > 0.05 amu/一天, >0.1amu/一个月。

4.9 同位素比精度 > 0.2 % 107 Ag/109 Ag。

5 仪器功能要求

5.1 定性分析：要求带智能谱图解释。

5.2 半定量分析：

5.2.1 要求半定量分析的内存工作曲线可以校正。

5.2.2 要求样品分析时能一次同时完成半定量和全定量分析。

5.3 全定量分析：全定量分析要求符合美国EPA200.8,EPA6020,NS30等国际标准要求,要求提供出示有关公开应用论文。

5.4 等离子体炬焰屏蔽技术分析plasma screen technology：

5.4.1 等离子体炬焰屏蔽技术要求包括冷焰屏蔽技术，和热焰屏蔽高灵敏度模式技术。

5.4.2 要求屏蔽技术能自动切换，并保持稳定。

5.4.3 要求在一次样品分析中能自动切换冷焰模式和标准模式，并保证样品中所有分析元素（在二种不同模式中）一次完成分析。

5.5 碰撞反应池技术分析：

5.5.1 要求碰撞反应池条件和标准条件的切换为全自动化。

5.5.2 要求碰撞反应池配置二个质量流量计，并能够快速切换，切换时间小于30秒钟。

5.5.3 要求可以使用简单碰撞气体，反应性气体，及混合气体(NH3/He,H2/He)，并可以在一次样品分析中自动切换，拥有更广泛的应用范围。

配置，辅助设备和消耗品要求：

1. 进口原装Neslab循环冷却水系统 一台。

2. 半导体制冷温度控制器 一套。

3. 碰撞反应池 一套。

4. 高灵敏度镍截取锥和工具 一套。

5. 高灵敏度镍采样锥 一套。

6. 截取锥安装锣丝 四个。

7. 采样锥密封垫20个。

8. 石英炬管 两只。

9. O 型圈28.0mmID x 1.5mmC/S（截取锥）两个。

10. O 型圈6.07 ID x 1.5mmC/S（雾化器）两个。

11. 进样泵管0-2 ml/min一包。

12. 排液管0-5 ml/min一包。

13. 黑色聚亚胺酯气管（冷却气，辅助气，雾化气）四米。

14. TEFLON 排液管 五米。

15. TEFLON 管 （雾化器进样管）一个。

16. 插入式炬管连接头6x4mm四个。

17. EDWARDS 超纯19级真空泵油（机械泵）一瓶。

18. 银屏蔽圈 一个。

19. 石英护套 一个。

20. 在线内标加入包一套。