【人物简介】

　　何亮，副教授。西安电子科技大学学士、硕士he博士毕业，主要从事电子材料与元器件噪声无损检测与表征研究工作。

【研究方向】

1.电子材料与元器件噪声无损检测与表征 2.元器件失效物理建模及仿真 3.寿命预报与健康管理

【研究成果】

【科研项目】

【论文著作】

　　1. 何亮，张雪，基于电噪声的太阳能电池质量评价技术，太阳能学报，2013(已录用，本文获第十三届中国光伏大会优秀论文奖) 　　2. 何亮，杜磊，黄晓君等，金属互连电迁移噪声的非高斯性模型研究，物理学报，2012,61(20)：206601.(SCI：000311525400048) 　　3. He Liang, Du Lei, Zhuang Yi-Qi, et al. A new model for electromigration grain boundary noise based on free volume, Chinese Physics B, 2010, 19(9):097202.(SCI: 000282186400086) 　　4. He Liang, Du Lei, Zhuang Yi-Qi, Study on noise characterization of me[ant]tallic interconnection electromigration, Materials Science Forum, 2009, 610-613: 521-525.(EI:20091612041206) 　　5. He L, Du, L, Zhuang YQ, Bao JL, “Multi-parameters Characterization of Electromigration Noise in me[ant]tal Interconnection”, 20th International Conference on Noise and Fluctuations, AIP Conference Proceedings, pp.637-640, Pisa Italy, 2009.(ISTP: 000267057200146) 　　6. 何亮，杜磊，庄奕琪等，金属互连电迁移噪声的多尺度熵复杂度分析，物理学报，2008,57(10)：6545.(SCI:000260144300076) 　　7. 何亮，杜磊，庄奕琪等，金属互连电迁移噪声的相关维数研究，物理学报，2007,56(12)：7176.(SCI:000252018900061)