关于举办“元器件失效分析技术与经典案例”培训的通知

发布时间:2019-12-03     浏览次数:
西安科技大市场联合工业和信息化部电子第五研究所可靠性分析中心共同举办“元器件失效分析技术与经典案例”培训。

各中小微企业:

为帮助更多企业了解元器件失效模式和机理,解决由于元器件失效引起的电子产品故障,从而提高产品质量和可靠性,西安科技大市场联合工业和信息化部电子第五研究所可靠性分析中心共同举办“元器件失效分析技术与经典案例”培训。现将有关事项通知如下:

一、组织机构

主办单位:西安科技大市场

               工业和信息化部电子第五研究所可靠性分析中心

二、培训时间、地址

12月 12日(周四)     09:00—16:30

西安高新区丈八四路20号神州数码科技园6号楼三楼1号会议室

四、参会人员

企业技术负责人、研发、质量、供应链管理、实验室等相关人员。

五、培训内容

1. 失效分析概论

2. 电子元器件失效分析技术

3. 常用失效分析设备及作用介绍

4.电子元器件主要失效模式和固有失效机理

5.主要电子元器件失效分析经典案例(电阻器、电容器、电感器、二极管、三极管、MOS、IC、电路模块等)

6. 电子元器件失效影响因素及控制对策

六、讲师简介

石高明  工业和信息化部电子第五研究所  分析中心  元器件可靠性工程部 部长

专业从事电子元器件可靠性相关研究,包括失效分析、根本原因分析、结构分析、破坏性物理分析、元器件可靠性分析与评价、物料评估、伪国产化鉴别等。目前研究方向是电子元器件失效分析技术、先进复杂集成电路结构分析与可靠性分析技术、伪国产化鉴别技术等。

七、费用说明

本次培训为公益性质,不收取费用,请自带纸笔

八、相关事宜

图片1.png


编辑:朱智超

Top Copyright © 2010 科技大市场 All Rights Reserved 陕ICP备13006569号
版权所有:西安科技大市场有限公司