垂直平面近场天线测量系统特点：

    扫描架结构：倒T型

    测量覆盖频率：300MHz-950GHz

    X轴有效行程：0.5m～30m

    Y轴有效行程：0.5m～30m

    Z轴有效行程：0.1m～1m

    校正前平面度：0.10mm

    校正后平面度：0.05mm（0.02mm max.）

    X轴最大扫描速度：0.35m/s

    Y轴最大扫描速度：0.35m/s

    X/Y轴定位精度：0.05mm

    Z轴定位精度：0.02mm

    控制方式：LAN或GPIB

    驱动电源：220V交变电流

    可升级性：可升级至柱面近场、球面近场和远场和时域近场

水平平面近场天线测量系统特点：

     扫描架结构：水平结构

     测量覆盖频率：300MHz-950GHz

    X轴有效行程：0.5m～30m

    Y轴有效行程：0.5m～30m

    Z轴有效行程：0.1m～7m

    校正前平面度：0.10mm

    校正后平面度：0.05mm（0.02mm max.）

    X轴最大扫描速度：0.35m/s

    Y轴最大扫描速度：0.35m/s

    X/Y轴定位精度：0.05mm

    Z轴定位精度：0.02mm

    控制方式：LAN或GPIB

    驱动电源：220V交变电流

    可升级性：可升级至时域近场

RCS测量系统

    解决方案：RCS天线测量系统

    应用范围：RCS测量、材料反射散射特性测量

    优势特点：可使用远场测量和紧缩场测量

    系统规格：根据项目设计选择不同的标准化规格尺寸，可定制

    支持仪表：安捷伦、罗德施瓦茨、安立、41所等各种仪表类型，可实现内混频和外混频测量模式

    提供交钥匙工程系统、可二次开发

球面近场天线测量系统

    解决方案：微波暗室、球面近场天线测量系统

    测试频率：覆盖400MHZ-40GHZ

    应用范围：各种高增益、中增益天线以及全向天线的测试测量诊断、GPS、北斗等天线的测量

    优势特点：可在较小的空间内完成远场不能完成的测量，且测量速度较远场更快

    扫描架规格：根据项目设计选择不同的标准化规格尺寸、可定制

    支持仪表：安捷伦、罗德施瓦茨、安立、41所等各种仪表类型、可实现内混频和外混频测量模式提供交钥匙工程系统

柱面近场天线测量系统

    解决方案：微波暗室、柱面近场天线测量系统

    测试频率：覆盖300MHZ-75GHZ

    垂直度：0.05mm典型值、0.02mm最小值

    应用范围：各种高增益、中增益天线的测试测量诊断、基站天线的测量诊断

    可扩展性：可升级至球面近场测量系统

    扫描架规格：根据项目设计选择不同的标准化规格尺寸、可定制

    支持仪表：安捷伦、罗德施瓦茨、安立、41所等各种仪表类型、可实现内混频和外混频测量模式提供交钥匙工程系统