西安市天线测量系统工程技术研究中心

垂直平面近场天线测量系统特点:

    扫描架结构:倒T型

    测量覆盖频率:300MHz-950GHz

    X轴有效行程:0.5m~30m

    Y轴有效行程:0.5m~30m

    Z轴有效行程:0.1m~1m

    校正前平面度:0.10mm

    校正后平面度:0.05mm(0.02mm max.)

    X轴最大扫描速度:0.35m/s

    Y轴最大扫描速度:0.35m/s

    X/Y轴定位精度:0.05mm

    Z轴定位精度:0.02mm

    控制方式:LAN或GPIB

    驱动电源:220V交变电流

    可升级性:可升级至柱面近场、球面近场和远场和时域近场

水平平面近场天线测量系统特点:

     扫描架结构:水平结构

     测量覆盖频率:300MHz-950GHz

    X轴有效行程:0.5m~30m

    Y轴有效行程:0.5m~30m

    Z轴有效行程:0.1m~7m

    校正前平面度:0.10mm

    校正后平面度:0.05mm(0.02mm max.)

    X轴最大扫描速度:0.35m/s

    Y轴最大扫描速度:0.35m/s

    X/Y轴定位精度:0.05mm

    Z轴定位精度:0.02mm

    控制方式:LAN或GPIB

    驱动电源:220V交变电流

    可升级性:可升级至时域近场

RCS测量系统

    解决方案:RCS天线测量系统

    应用范围:RCS测量、材料反射散射特性测量

    优势特点:可使用远场测量和紧缩场测量

    系统规格:根据项目设计选择不同的标准化规格尺寸,可定制

    支持仪表:安捷伦、罗德施瓦茨、安立、41所等各种仪表类型,可实现内混频和外混频测量模式

    提供交钥匙工程系统、可二次开发

球面近场天线测量系统

    解决方案:微波暗室、球面近场天线测量系统

    测试频率:覆盖400MHZ-40GHZ

    应用范围:各种高增益、中增益天线以及全向天线的测试测量诊断、GPS、北斗等天线的测量

    优势特点:可在较小的空间内完成远场不能完成的测量,且测量速度较远场更快

    扫描架规格:根据项目设计选择不同的标准化规格尺寸、可定制

    支持仪表:安捷伦、罗德施瓦茨、安立、41所等各种仪表类型、可实现内混频和外混频测量模式提供交钥匙工程系统

柱面近场天线测量系统

    解决方案:微波暗室、柱面近场天线测量系统

    测试频率:覆盖300MHZ-75GHZ

    垂直度:0.05mm典型值、0.02mm最小值

    应用范围:各种高增益、中增益天线的测试测量诊断、基站天线的测量诊断

    可扩展性:可升级至球面近场测量系统

    扫描架规格:根据项目设计选择不同的标准化规格尺寸、可定制

    支持仪表:安捷伦、罗德施瓦茨、安立、41所等各种仪表类型、可实现内混频和外混频测量模式提供交钥匙工程系统


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